şükela:  tümü | bugün
  • taramalı elektron mikroskobunun bir üst versiyonudur, 300 kv'a kadar voltaj altında hızlandırılmış elektron kullanarak malzemenin kristal kafesini analiz edilebilir, tem ile elde edilen fotoğraflar genellikle noktalardan ve dairelerden ibaret olur fakat en basit anlamda noktalar arası mesafe ile malzeme kesin olarak tespit edilebilir. analiz 2 boyutlu ve siyah beyazdır.

    tem'in en tehlikeli yönü numune hazırlamanın aşırı zor olmasıdır, metaller nispeten kolay incelense de seramikler için olay zorlaşır, bunun sebebi tem ile inceleme yapılabilmesi için inceleme yapılacak olan yerden elektronların yansıması değil, diğer tarafa geçmesi gerekir, bu sebeple de geçirmeli ismini almaktadır, metaller sünek olduğu için inceltilebilirler fakat seramikler kırılgan oldukları için iyon implantasyonu gibi yöntemlerle bile zor inceltilirler, kırılma gerçekleştiği anda malzeme çöpe gitmektedir, diğer bir hassas unsur ise organik malzeme inceleme zorluğu ve radyasyon hasarlarıdır.

    tem için söylenebilecek en önemli şey şahet hassas bir inceleme yapılacaksa ve kesin bir sonuç isteniyorsa çok iyi sonuçların alınabileceğidir, çünkü istenen bölge için malzemenin faz oryantasyonunu değil, direkt karakteristik olan latis parametresini gösterir.